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Xray的應用之工業CT檢測設備
欄目：業界資訊 發布時間：2021-01-25
X射線本質上與光一樣，也是一種電磁波，它在穿透物體過程中會與物體內的原子進行相互作用（包括光電效應、康普頓效應、電子對效應等）而發生衰減。簡單來講，組成物體的原子序數越大（質量密度越高），X射線的衰減越大，穿透能力越弱，反之亦然。下圖1是以鋁為例，不同電壓下的穿透厚度。
X射線的穿透能力會直接影響CT成像結果，尤其是當樣品內部有高密度的金屬時，在更高穿透能力的X射線下才能獲得清晰的圖像（如下圖2所示）
CT技術的核心是由投影數據重建圖像的理論，其實質是由掃描所得的投影數據（DR）反求出成像平面上每個點對X射線的衰減系數值。
下面對反投影重建方法的原理，進行簡要說明。
一、通過代數形式解釋
假設有如下圖所示的2×2的二維平面方格，每個方格中有一個未知的自然數，我們要根據不同方向投影相加的數值，反求出4個未知數A、B、C、D。
首先我們獲得了0度和90度2個方向的投影信息，建立方程組，求解后發現未知數有4種可能的解。
很顯然，上述結果與事實偏離太多，這提醒我們僅有0度和90度兩個方向的投影數據太少了，我們再增加45度的投影數據（如下圖所示）。此時，就能得到唯一的解。
在不同角度采集投影圖的過程
